Главная / Микролимфология / Методы исследования лимфоносных микрососудов / Методы электронно-микроскопического изучения лимфоносных микрососудов / Монтирование образцов для лучшего стекания электронов и предотвращения возникновения зарядов

Монтирование образцов для лучшего стекания электронов и предотвращения возникновения зарядов

30.05.2010г.

Монтирование образцов для лучшего стекания электронов и предотвращения возникновения зарядов на поверхности изучаемого объекта лучше осуществлять с помощью специального кондуктивного клея, который используется в микроэлектронике. Самое мелкодисперсное кондуктивное покрытие биологических объектов достигается с помощью метода ионного или катодного рассеивания ионов тяжелых металлов — серебра, золота, платины. Осмотр образцов рекомендуется проводить начиная с малых увеличений СЭМ, что позволяет соблюсти принцип топографического анализа.

Фоторегистрацию целесообразно проводить при разных углах наклона образца, что способствует лучшему выявлению ряда рельефных образований поверхности. Кроме того, съемка одного и того же участка с разницей угла наклона 3—5° позволяет получать стереопары, которые создают реальное трехмерное изображение.

Интересную и во многом необычную информацию дает использование специального детектора «backscatter detecter», встроенного в СЭМ. После предварительной импрегнации эндотелиоцитов лимфоносных сосудов специфическими серебряными красителями в режиме «backscattering» удается наблюдать не только детали рельефа поверхности ядер эндотелиальных клеток, по и гак называемую субповерхность [по Gnerp D и Green F., 1979, 1980] эндотелиоцитов.

С помощью данного подхода удалось выделить морфологические критерии отличия эндотелия кровеносных и лимфатических сосудов, опираясь на плотность распределения эндотелиоцитов, форму их ядер и особенности организации периваскулярной соединительной ткани.

СЭМ внутриклеточных структур

Особого внимания заслуживает СЭМ внутриклеточных структур.

Известны три способа изучения трехмерной организации внутриклеточных структур: 

  1. метод ионного травления сколотой или срезанной клетки [Tanaka Т. et al., 1976];
  2. метод оттаивания—травления [Haggis G. et al., 1978];
  3. метод удаления наружных мембран с помощью детергентов [Bell P. et al., 1978].

Накопленный опыт изучения пространственной организации скелета эндотелиальных и мезотелиальных клеток показывает высокую информативность последнего из перечисленных выше методов [Караганов Я. Л. и др., 1981в, 1981 г.].

Большой интерес представляет изучение взаимоотношения фибриллярных и мембранных элементов клетки с помощью методов ионного травления и оттаивания — травления. Есть основания считать, что дальнейшее совершенствование метода детергентной экстракции откроет новые возможности для дифференцированного изучения трехмерной организации отдельных элементов скелета эндотелиальных клеток лимфатических капилляров и сосудов.

Заслуживают внимания попытки прямой комбинации СЭМ с катодолюминесценцией. Использование такого подхода позволило G. Hauck и соавт. (1978) визуализировать пути распространения жидкости в интерстициальном пространстве.

Таким образом, на основании изложенных выше данных складывается впечатление о широких возможностях СЭМ в изучении лимфатической системы, которые, однако, использованы далеко не полностью.


«Микролимфология», В.В.Купирянов, Ю.И. Бородин





Читайте далее: